在半导体制造领域，一个晶圆从投片到出货需经历上千道精密工序，良率波动0.1%可能意味着千万级损失。然而，传统的数据分析如同“雾里看花”，MES、YMS、FDC等系统每天产生海量数据，工程师需在数十个系统间手动提取数据，关键设备状态与生产效能难以实时联动。“数据迷雾”正成为制
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